旺矽科技股份有限公司 相關專利權資料

總計 59 筆資料

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公開公告日期 公開公告號 專利類別 專利名稱
2023-05-16 202319729 發明 光路校正配件、光學檢測組件以及光學檢測系統
2023-03-01 202309514 發明 光學檢測系統以及用於預定目標物的對位方法
2022-11-01 202242424 發明 用於半導體測試之電路板
2022-10-16 202240148 發明 光學檢測系統與光學檢測方法
2022-10-16 202240153 發明 可互換型半導體物料視覺背檢與正檢系統及其設定方法
2022-05-01 202218007 發明 對齊晶圓的方法
2021-10-01 202136785 發明 探針製造方法
2021-03-01 202109050 發明 可同時用於高頻及中低頻訊號測試之探針頭
2021-03-01 202109051 發明 可同時用於高頻及中低頻訊號測試之探針頭