旺矽科技股份有限公司 相關專利權資料
總計 20 筆資料
資料來源為：經濟部智慧財產局開放資料 API。
| 公告日 | 公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
|---|---|---|---|
| 2024-04-11 | I838543 | 發明 | 可同時用於高頻及中低頻訊號測試之探針頭 |
| 2024-03-21 | I836694 | 發明 | 光路校正配件、光學檢測組件以及光學檢測系統 |
| 2024-01-21 | I829897 | 發明 | 探針製造方法 |
| 2023-12-11 | I825442 | 發明 | 對齊晶圓的方法 |
| 2023-12-01 | I824565 | 發明 | 光學檢測系統及其整合式光學檢測裝置 |
| 2023-10-21 | I819747 | 發明 | 光學檢測系統以及用於預定目標物的對位方法 |
| 2023-09-01 | I814536 | 發明 | 探針系統及其機台裝置 |
| 2023-08-01 | I810885 | 發明 | 用於半導體測試之電路板 |
| 2023-07-11 | I808714 | 發明 | 可互換型半導體物料視覺背檢與正檢系統及其設定方法 |
| 2023-07-11 | I808707 | 發明 | 光學檢測系統與光學檢測方法 |