旺矽科技股份有限公司 相關專利權資料

總計 63 筆資料

資料來源為:經濟部智慧財產局開放資料 API。


公開公告日期 公開公告號 專利類別 專利名稱
2024-08-01 202430898 發明 電路板檢測設備
2024-08-01 I850868 發明 探針頭與垂直式探針及垂直式探針的製造方法
2024-08-01 I851002 發明 用於半導體測試之電路板及其製造方法
2024-08-01 M658751 新型 黏合式多層導板單元、包括該黏合式多層導板單元的探針頭、探針座、探針卡及檢測系統
2024-07-21 I849949 發明 具有彈簧探針的探針頭
2024-06-21 I845707 發明 可同時用於高頻及中低頻訊號測試之探針頭
2024-06-21 I846308 發明 用於半導體測試之電路板及其製造方法
2024-06-21 I846309 發明 用於半導體測試之電路板及其製造方法
2024-06-16 202424496 發明 用於具有傾斜導電接點之待測單元的探針模組與測試方法以及待測單元及測試系統
2024-06-01 202422080 發明 探針頭與垂直式探針及垂直式探針的製造方法