旺矽科技股份有限公司 相關專利權資料
總計 59 筆資料
資料來源為：經濟部智慧財產局開放資料 API。
| 公開公告日期 | 公開公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
|---|---|---|---|
| 2024-07-21 | I849949 | 發明 | 具有彈簧探針的探針頭 |
| 2024-06-21 | I845707 | 發明 | 可同時用於高頻及中低頻訊號測試之探針頭 |
| 2024-06-21 | I846308 | 發明 | 用於半導體測試之電路板及其製造方法 |
| 2024-06-21 | I846309 | 發明 | 用於半導體測試之電路板及其製造方法 |
| 2024-06-16 | 202424496 | 發明 | 用於具有傾斜導電接點之待測單元的探針模組與測試方法以及待測單元及測試系統 |
| 2024-06-01 | 202422080 | 發明 | 探針頭與垂直式探針及垂直式探針的製造方法 |
| 2024-05-01 | 202417856 | 發明 | 探針卡、探針卡設計方法、生產/產生被測試的半導體器件的方法、利用一探針卡測試一未封裝半導體器件的方法、待測物以及探針系統 |
| 2024-04-16 | 202415960 | 發明 | 具有彈簧探針的探針頭 |
| 2024-04-11 | I838543 | 發明 | 可同時用於高頻及中低頻訊號測試之探針頭 |
| 2024-03-21 | I836694 | 發明 | 光路校正配件、光學檢測組件以及光學檢測系統 |