南亞科技股份有限公司 相關專利權資料
總計 1261 筆資料
資料來源為：經濟部智慧財產局開放資料 API。
| 公開公告日期 | 公開公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
|---|---|---|---|
| 2024-11-01 | 202444193 | 發明 | 半導體結構及其形成的方法 |
| 2024-10-16 | 202441380 | 發明 | 量測系統與量測方法 |
| 2024-10-16 | 202441517 | 發明 | 用於測試記憶體裝置的判決回饋均衡的測試方法 |
| 2024-10-16 | 202441629 | 發明 | 具有介電襯墊的半導體結構的製備方法 |
| 2024-10-01 | 202439085 | 發明 | 斷電電路及斷電方法 |
| 2024-10-01 | 202439454 | 發明 | 導電組件的側壁上具有保護層的半導體結構及其製備方法 |
| 2024-10-01 | 202439922 | 發明 | 半導體結構的形成方法 |
| 2024-10-01 | 202439931 | 發明 | 具有減少寄生電容的記憶體元件的製備方法 |
| 2024-09-16 | 202437420 | 發明 | 疊對量測元件及其操作方法 |
| 2024-09-16 | 202437856 | 發明 | 半導體裝置及其製造方法 |