南亞科技股份有限公司 相關專利權資料
總計 500 筆資料
資料來源為：經濟部智慧財產局開放資料 API。
| 公告日 | 公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
|---|---|---|---|
| 2024-02-21 | I833255 | 發明 | 用於動態隨機存取記憶體的測試結構及其製造方法 |
| 2024-02-21 | I833254 | 發明 | 具有階梯狀位元線之記憶體元件 |
| 2024-02-21 | I833251 | 發明 | 失效模式分析系統及失效模式分析方法 |
| 2024-02-21 | I833245 | 發明 | 具有不同位元線接觸點之半導體元件的製備方法 |
| 2024-02-21 | I833236 | 發明 | 具有不同粗糙度之通道層的半導體元件結構 |
| 2024-02-21 | I833235 | 發明 | 具有字元線之記憶體元件的製備方法 |
| 2024-02-21 | I833234 | 發明 | 具有字元線之記憶體元件 |
| 2024-02-21 | I833233 | 發明 | 反熔絲感測裝置及其操作方法 |
| 2024-02-21 | I833228 | 發明 | 半導體元件的製備方法 |
| 2024-02-21 | I833224 | 發明 | 具有可程式設計元件的半導體元件及其製備方法 |