南亞科技股份有限公司 相關專利權資料
總計 500 筆資料
資料來源為：經濟部智慧財產局開放資料 API。
| 公告日 | 公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
|---|---|---|---|
| 2024-07-01 | I847860 | 發明 | 用於半導體製程的疊對量測的計量方法 |
| 2024-07-01 | I847847 | 發明 | 半導體結構的製造方法 |
| 2024-07-01 | I847815 | 發明 | 半導體結構的製造方法 |
| 2024-07-01 | I847812 | 發明 | 具有容器形狀電極的記憶體元件 |
| 2024-07-01 | I847788 | 發明 | 半導體裝置與其製造方法 |
| 2024-07-01 | I847786 | 發明 | 具有多孔層的半導體元件 |
| 2024-07-01 | I847778 | 發明 | 切割線結構及其半導體元件 |
| 2024-07-01 | I847766 | 發明 | 具有介電襯墊的半導體結構 |
| 2024-07-01 | I847763 | 發明 | 具有減少寄生電容的記憶體單元 |
| 2024-07-01 | I847761 | 發明 | 具有超輕度摻雜區的記憶體元件 |