南亞科技股份有限公司 相關專利權資料
總計 1261 筆資料
資料來源為：經濟部智慧財產局開放資料 API。
| 公開公告日期 | 公開公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
|---|---|---|---|
| 2024-09-11 | I855637 | 發明 | 記憶體測試系統及記憶體測試方法 |
| 2024-09-11 | I855639 | 發明 | 具有散熱結構的半導體結構 |
| 2024-09-11 | I855643 | 發明 | 垂直漏電的半導體測試結構 |
| 2024-09-11 | I855646 | 發明 | 具有氣隙的半導體元件及其製備方法 |
| 2024-09-11 | I855652 | 發明 | 半導體元件及其製備方法 |
| 2024-09-11 | I855659 | 發明 | 導電組件的側壁上具有保護層的半導體結構及其製備方法 |
| 2024-09-11 | I855660 | 發明 | 半導體結構與半導體結構的對準測量方法 |
| 2024-09-11 | I855662 | 發明 | 半導體元件及其製造方法 |
| 2024-09-11 | I855681 | 發明 | 記憶體元件及其製造方法 |
| 2024-09-11 | I855698 | 發明 | 具有接合元件的半導體結構 |