南亞科技股份有限公司 相關專利權資料
總計 500 筆資料
資料來源為：經濟部智慧財產局開放資料 API。
| 公告日 | 公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
|---|---|---|---|
| 2024-09-11 | I855735 | 發明 | 半導體結構及其製造方法 |
| 2024-09-11 | I855730 | 發明 | 使用改善的蝕刻製程的半導體結構的製備方法 |
| 2024-09-11 | I855727 | 發明 | 用於測試記憶體裝置的判決回饋均衡的測試方法 |
| 2024-09-11 | I855703 | 發明 | 具有改良之P-N接面的記憶體裝置 |
| 2024-09-11 | I855698 | 發明 | 具有接合元件的半導體結構 |
| 2024-09-11 | I855681 | 發明 | 記憶體元件及其製造方法 |
| 2024-09-11 | I855662 | 發明 | 半導體元件及其製造方法 |
| 2024-09-11 | I855660 | 發明 | 半導體結構與半導體結構的對準測量方法 |
| 2024-09-11 | I855659 | 發明 | 導電組件的側壁上具有保護層的半導體結構及其製備方法 |
| 2024-09-11 | I855652 | 發明 | 半導體元件及其製備方法 |