南亞科技股份有限公司 相關專利權資料
總計 1261 筆資料
資料來源為：經濟部智慧財產局開放資料 API。
| 公開公告日期 | 公開公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
|---|---|---|---|
| 2026-02-01 | I914045 | 發明 | 位元線接觸結構、具有接觸隔離間隔物之半導體元件及其製備方法 |
| 2026-02-01 | I914074 | 發明 | 測試方法與測試系統 |
| 2026-02-01 | I914091 | 發明 | 使用多層遮罩的半導體元件的製備方法 |
| 2026-02-01 | I914092 | 發明 | 石英座監測系統及石英座監測方法 |
| 2026-02-01 | I914109 | 發明 | 包括支撐層的半導體元件的製備方法 |
| 2026-02-01 | I914110 | 發明 | 具有凹入式電晶體的半導體結構及其製備方法 |
| 2026-02-01 | I914113 | 發明 | 晶圓量測方法 |
| 2026-02-01 | I914120 | 發明 | 半導體結構 |
| 2026-02-01 | I914123 | 發明 | 具有錐形位元線接觸件的記憶體元件 |
| 2026-02-01 | I914128 | 發明 | 具有間隙子的半導體元件及其製備方法 |