由田新技股份有限公司 相關專利權資料
總計 18 筆資料
資料來源為:經濟部智慧財產局開放資料 API。
公告日 | 公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
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2024-10-11 | I858693 | 發明 | 印刷電路板切片量測系統、量測方法、以及印刷電路板切片箱結構 |
2024-09-11 | I855614 | 發明 | 多重複檢之自動化光學複判系統以及多重複檢方法 |
2024-08-11 | I852571 | 發明 | 線路影像檢測方法以及包含其的自動光學檢測系統 |
2024-08-01 | I850820 | 發明 | 基板承載結構以及基板檢測裝置 |
2024-06-11 | I844856 | 發明 | 入光量調整光學系統及包含其的光學檢測系統 |
2024-05-21 | I843540 | 發明 | 粗糙表面影像處理方法及包含其的自動光學檢測系統 |
2024-05-01 | I841042 | 發明 | 用於自動光學檢測的載台壓框裝置及包含其的自動光學檢測系統 |
2024-04-21 | I839842 | 發明 | 具被動輪的傳輸設備及其自動光學檢測設備 |
2024-03-21 | I836876 | 發明 | 晶圓切割道的檢測系統及檢測方法 |
2024-03-01 | I833973 | 發明 | 用於基板的線路量測系統及方法 |