由田新技股份有限公司 相關專利權資料
總計 22 筆資料
資料來源為：經濟部智慧財產局開放資料 API。
| 公告日 | 公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
|---|---|---|---|
| 2026-02-21 | I916069 | 發明 | 覆晶高度量測方法及系統 |
| 2026-02-21 | I915932 | 發明 | 雙光源基板影像三維資訊量測系統及方法 |
| 2026-02-01 | I913893 | 發明 | 應用於內引腳接合設備的光學檢測裝置、光學檢測方法、及具有光學檢測裝置的內引腳接合設備 |
| 2026-02-01 | I913631 | 發明 | 基於螢光的基板影像量測系統及其方法 |
| 2024-10-11 | I858693 | 發明 | 印刷電路板切片量測系統、量測方法、以及印刷電路板切片箱結構 |
| 2024-09-11 | I855614 | 發明 | 多重複檢之自動化光學複判系統以及多重複檢方法 |
| 2024-08-11 | I852571 | 發明 | 線路影像檢測方法以及包含其的自動光學檢測系統 |
| 2024-08-01 | I850820 | 發明 | 基板承載結構以及基板檢測裝置 |
| 2024-06-11 | I844856 | 發明 | 入光量調整光學系統及包含其的光學檢測系統 |
| 2024-05-21 | I843540 | 發明 | 粗糙表面影像處理方法及包含其的自動光學檢測系統 |