力晶積成電子製造股份有限公司 相關專利權資料

總計 342 筆資料

資料來源為:經濟部智慧財產局開放資料 API。


公開公告日期 公開公告號 專利類別 專利名稱
2026-07-16 202630393 發明 記憶體結構及其製造方法
2026-07-16 202630406 發明 用於記憶體裝置的缺陷偵測方法
2026-07-16 202630742 發明 非揮發性記憶體與其製造方法
2026-07-16 202630750 發明 具有凹陷通道的金屬氧化物半導體場效電晶體及其製造方法
2026-07-16 202630761 發明 半導體元件與其形成方法
2026-07-11 I931778 發明 檢測方法及檢測系統
2026-07-11 I931975 發明 用於記憶體裝置的缺陷偵測方法
2026-07-11 I931995 發明 非揮發性記憶體與其製造方法
2026-07-11 I932001 發明 半導體結構及其形成方法
2026-07-11 I932062 發明 半導體裝置及其製造方法