鏵友益科技股份有限公司 相關專利權資料

總計 12 筆資料

資料來源為:經濟部智慧財產局開放資料 API。


公開公告日期 公開公告號 專利類別 專利名稱
2026-04-21 M682459 新型 自動化光學檢測設備
2024-11-11 M662645 新型 晶圓的自動光學檢查裝置
2024-10-21 M662175 新型 半導體產線料盒的偵測裝置
2024-08-11 M659479 新型 晶圓辨識裝置
2024-06-11 M656813 新型 晶圓檢測系統
2024-05-21 M655876 新型 半導體設備的多光機檢測模組
2024-05-11 M655576 新型 晶圓翻面裝置
2024-04-11 M654211 新型 等分距變距滑台
2023-09-01 M645845 新型 晶舟轉換裝置
2023-08-11 M645186 新型 半導體元件之包裝袋的整定裝置