華邦電子股份有限公司 相關專利權資料
總計 159 筆資料
資料來源為:經濟部智慧財產局開放資料 API。
公告日 | 公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
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2024-05-11 | I841904 | 發明 | 半導體裝置及其製造方法 |
2024-05-01 | I841293 | 發明 | 記憶體測試方法及裝置 |
2024-05-01 | I841270 | 發明 | 記憶體裝置及其製造方法 |
2024-05-01 | I841269 | 發明 | 半導體結構的製造方法 |
2024-04-21 | I840147 | 發明 | 光罩結構與圖案化方法 |
2024-04-21 | I840111 | 發明 | 半導體結構及其形成方法 |
2024-04-11 | I839107 | 發明 | 半導體裝置及其形成方法 |
2024-04-11 | I839046 | 發明 | 膜層中的縫隙的檢測方法 |
2024-04-11 | I839043 | 發明 | 半導體結構及其製造方法 |
2024-04-11 | I839031 | 發明 | 檢測方法及檢測系統 |